Микроскопы
(всего 26)
Металлографический мини комплекс МИКРОКОН МЕТ Экспресс предназначен для неразрушающего обследования структуры металла гибов паропроводов, различного
Измерительный микроскоп Nikon MM 200 позволяет проводить измерения в трех осях XYZ. В базовой комплектации микроскоп имеет ручной столик с величиной хода 50х50х110 мм.
В продаже лазерный сканирующий конфокальный цветной микроскоп OPTELICS HYBRID в Москве Многофункциональный высокопроизводительный световой конфокальный и лазерный
В продаже сканирующий атомно силовой микроскоп QScan Plus/Pro P300 в Москве Ключевым фактором в производительности атомно-силового микроскопа является выбор сканера.
В продаже атомно силовой зондовый микроскоп QScan P100/P150 в Москве Атомно силовой микроскоп P100/P150 обладает возможностью проводить сканирование образцов с
Портативный металлографический микроскоп МИКРОКОН МПМ-2У-СП предназначен для неразрушающего контроля состояния металла оборудования нефтегазового комплекса,
Металлографический микроскоп МИКРОКОН МЕТ-105 предназначен для неразрушающей оперативной металлографии нефтегазового, нефтехимического и энергетического
Принцип работы Укладывают объект на предметном стекле для измерения геометрических размеров перемещением ИЛ по вертикальной координата. Поворотом ИЛ совмещают
COXEM EM-30 удобен в управлении и имеет компактные размеры, что делает его идеальным для образовательных учреждений и мобильных лабораторий. Удобный графический
Спецификация EM-20 Увеличение: x20 – x80,000 Разрешение: 7.0 нм (30КВ, SE изображение) Ускоряющее Напряжение: 1-20кВ(1/3/5/10/15/20КВ) Электронная Пушка: W (Вольфрам) Детектор: SE
Спецификация CX-200TA Увеличение: x15 – x300,000 Разрешение: 3.0 нм (30КВ, SE изображение) Ускоряющее Напряжение: 1-30кВ Электронная Пушка: W (Вольфрам) Детектор: SE Детектор
Спецификация CX-200TA Увеличение: x15 – x300,000 Разрешение: 3.0 нм (30КВ, SE изображение) Ускоряющее Напряжение: 1-30кВ Электронная Пушка: W (Вольфрам) Детектор: SE Детектор
Металлографический мини комплекс МИКРОКОН МЕТ ЭКСПРЕСС Лайт предназначен для базового неразрушающего обследования структуры металла оборудования энергетики и
Металлографический мини комплекс МИКРОКОН МЕТ Экспресс предназначен для неразрушающего обследования структуры металла оборудования энергетики и нефтегазовой
Система имеет жесткий, не требующий подъюстировок дизайн, обладает одновременно высокой чувствительностью и высоким пространственным разрешением. Спектральные
- Жесткая стабильная конструкция системы - Автоматизированное управление работой прибора - Цифровое изображение с увеличением 100х - Высокая
3D сканирующий конфокальный микроскоп со спектрометром "Nanofinder S" незаменим для исследований в нанобиотехнологиях, при комплексном анализе таких объектов как
Вакуумная установка позволяет реализовывать следующие технологии по нанесению: Просветляющих покрытий. Однослойные, многослойные. Отражающие покрытия.
Оптический гранулометрический анализатор BT - 1600 представляет собой систему для анализа изображений, полученных при помощи оптического микроскопа. Он позволяет
Техническая информация Электронно-оптическая колонна Колонка Тип трубки: смещенная триодная структура с вольфрамовым источником. Различное расстояние между
Электронный растровый микроскоп EM3900M со встроенным компьютером и увеличением от 15 до 300.000 крат и разрешением 3 нм. Растровый микроскоп EM3900M идеальная алтернатива
Электронный сканирующий микроскоп SEM 2800B со встроенным компьютером и увеличением от 15 до 250000 крат. Цифровой электронный сканирующий микроскоп может работать в
Сканирующий электронный микроскоп KYKY-EM3200 со встроенным компьютером и увеличением от 15 до 250.000 крат. Cканирующий цифровой электронный микроскоп может работать в
Данный сканирующий электронный микроскоп SEM 3800B снабжен 3 линзами и может приближать до 250,000 X. сканирующий электронный микроскоп SEM 3800B с естественной средой,
3D сканирующий конфокальный микроскоп со спектрометром модель "Nanofinder S" Сканирующий лазерный микроскоп Одновременный / Многофункциональный анализ: *
НТК «УМКА» обеспечивает в атмосферных условиях изучение тонкой структуры и получение чётких изображений поверхностей электропроводящих и полупроводящих
