CCBot/2.0 (http://commoncrawl.org/faq/)
Новости
26.07.2017
 В Томске нашли способ получать недорогие пигменты на местном сырье
Специалисты Томского научного центра СО РАН применили метод самораспространяющегося высокотемпературного синтеза для получения неорганических пигментов широкой цветовой гаммы
Статьи
14.07.2017
 Секреты повышения эффективности производства
Как сделать производство продуктов питания прибыльным и стабильным делом без огромных вложений

Управление предприятием
06.08.2017
 Потерянная потеря
К чему приводит потерянное время управленческого персонала


Интервью
03.02.2017
 Как вентиляция и канализация могут сделать вашу жизнь не только удобней, но и богаче
КУРГУЗОВ
Игорь
генеральный директор
ООО «Оборудование Профессионалам»
О том, почему дела с ЖКХ в России обстоят плохо и что с этим делать

Лазерный сканирующий конфокальный цветной микроскоп OPTELICS HYBRID в Москве

В продаже новый Лазерный сканирующий конфокальный цветной микроскоп OPTELICS HYBRID в Москве производства "Lasertech" за 250000 usd.
Код товара: 66690
Состояние
Новое
Производитель
Lasertech
Цена: 250000 usd
Описание

В продаже лазерный сканирующий конфокальный цветной микроскоп OPTELICS HYBRID в Москве
Многофункциональный высокопроизводительный световой конфокальный и лазерный конфокальный микроскоп OPTELICS HYBRID обладает целым рядом преимуществ: 2 вида конфокальной оптики в одном микроскопе, интерферометр на фазовом сдвиге, возможность наблюдения в дифференциально интерференционном контрасте, измерение толщин тонких пленок методом спектроскопической рефракции.


Технические характеристики

24битное цветное наблюдение высокого разрешения
Широкопольные наблюдения и измерения
Определение толщин прозрачных пленок
Высокое увеличение
Высокое разрешение
Высокая контрастность
Визуализация нанометровых дефектов, трещин, частиц на ровной поверхности


Аналитические функции
Профиль / сравненительные измерения
Измерение формы поверхности на заданной пользователем линии.
Измерение сравнения для измерения разницы в нескольких строках.
Критерии измерения: ширина, высота, угол, уточненный радиус, отклонение



Измерения ширины и шага
Идеально подходит для измерения ширины полупроводниковых паттернов. Лучшая в отрасли точность и повторяемость достигается с помощью уникальной оптики и детекторов.
Точность:
± [0,02 x (100 / увеличение объективами) + L / 1000] мкм
(Ex. ± 0.025 µm для ширины линии 5 мкм)
Повторяемость:
3? = 0.01µm


Измерение шероховатости поверхности
Измерение шероховатости поверхности в соответствии с параметрами JIS и ISO. Высокое разрешение измерения шероховатости возможно для любого типа образцов благодаря бесконтактному методу измерений.
2 мерная шероховатость
Шероховатость поверхности: Ra, Rp, Rv, Rc, Rt, Rq, Rsm, Rk, Rpk, Rvk и т.д.
JIS B 0671: Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, А1, А2 и т.д.
Rmr
3D шероховатость
Параметры шероховатости: Sa, Sp, Sv, Sz, пл и т.д.
Параметры объема: Sk, SPK, СВК, SMR1, ВВК, VVV и т.д.


Анализ геометрических свойств
HYBRID анализирует более 20 свойств, включая площадь, объем, положение центра тяжести и т.д. Вывод результата анализа доступен в формате электронной таблицы.


2D измерения
Измерение 2 мерных функций, таких как длина, угол, радиус и т.п.


Измерение перепадов высот
Измерение разницы высот в указанной пользователем области


Измерение толщины пленки (XZ поперечные измерения)
Толщина пленки получают путем оптических вычислений расстояния между поверхностью пленки и поверхности подложки с использованием отраженного света. Пример: PI пленки на подложке.


Управление данными результатов экспериментов


Высокая скорость и высокая точность измерений
Ведущая в отрасли скорость измерения. HYBRID достигает частоту кадров 15 Гц, примерно в 4 раза быстрее, чем типичный CLSM(конфокальный лазерный сканирующий микроскоп, что делает его мощным инструментом для высокоскоростного авто измерений, пэчворка и высокоскоростного наблюдения.
Высоко скоростной пэчворк. Эта функция позволяет сшить большой объект, как показано на рисунке из множества небольших лоскутков изображений. Это плавно создает широкий FOV изображение. Время процесса составляет около 1/6, что требуется для типичного CLSM. (Количество экранов : 1 / 1.5, измерение времени на экране: 1/4)
Высокоскоростная автоматическая оптимизация диапазона измерения. В пэчворк, высота зазора в пределах каждого FOV автоматически определяется для автонастройки диапазона измерений. Это предотвращает ошибки ввода данных по изображению и значительно сокращает время сканирования.
Маппинг отображение областей изображения. Текущее позиция проводимых измерений может быть отображена в более широком FOV изображения. Эта функция также позволяет перейти к точке измерения одним щелчком мыши, авто пэчворк в указанной области на карте и координировать управление информацией в указанной позиции.
Лучшая в отрасли точность измерений и повторяемость. Высокая точность требуется для измерительных инструментов. Высокая точность:
Ширина линии: ± [0.02x (100 / цель) + L / 1000] мкм
Измерение высоты: ± (0,11 + L / 100) мкм
Высокий уровень повторяемости. Линия 3? измерение ширина: 10 нм
Измерение высоты: 10нм
HYBRID достигает отрасли воспроизводимости и обнаруживает истинный пик, расположенный в зазоре измерения на основе IZ кривой, рассчитанной с помощью специального алгоритма.
Оптические интерференционные измерения
Измерение высоты нанометрового масштаба в широком поле зрения. Возможно проведение точных наноизмерений высоты в миллиметровом масштабе FOV.
Особенности
Разрешение при измерении высоты с использованием оптической интерференции не зависит от линзы объектива NA. Поэтому возможно иметь высокое разрешение, даже в широком поле зрения. Это подходит для измерения сверхтонких вогнутости / выпуклости, шероховатости поверхности и неровностей при сохранении миллиметрового масштаба широкоугольного обзора. Вы можете значительно расширить диапазон измерительных применений, дополняя этот метод с конфокальностью, который больше подходит для измерения склонов и шероховатых поверхностей.


Основной принцип оптических интерференционных измерений
профили поверхности измеряются в нанометровом разрешении от анализа моделей интерференции, создаваемых интерференцией объективов. Свет разбивается на два массива с помощью светоделителя внутри объектива. Один из массивов отражается поверхностью образца, в то время как другой массив переходит к референтному зеркалу и отражается. Оба отраженных луча накладываются на линзу объектива для формирования интерференционных картин, вызванных оптическими разности хода. По мере того как инструмент настроен так, что он не имеет оптической разности хода в положении фокуса, интерференционные полосы указывают на впадины и выпуклости на поверхности образца.

Вертикально-сканировующая интерферометрия белого света
Интерференционные полосы имеют сильный контраст на плоскости в фокусе. Пик яркости в интерференционной полосы определяется для измерения высоты с надежностью конфокальной микроскопии.


Интерферометрия сдвига фазы
Измерение высоты в Ангстрем масштабе степени точности измерений от фазового анализа интерференционных полос в одной длине волны света (546 нм), которые получаются, поскольку фаза изменяется в несколько этапов. Диапазон измерений ограничен в пределах половины длины волны, но время измерения составляет несколько секунд.


Измерение толщины пленок методом спектральной рефлектометрии

Измерение толщины прозрачной пленки. Вы можете измерить толщину прозрачных пленок, используя возможность выбора 6 длин волн в белом свете. Область измерения настраивается пользователем . Эта функция применима либо к поверхностнопокрытым пленкам или узорчатым пленкам. Спектроскопическая рефлектометрия доступна для измерения прозрачной пленки толщиной в нанометровом масштабе. Это компенсирует недостаток софокусной оптики, которая не может обнаружить позицию фокусировки для пленки с толщиной, близкой к длине волны света, таким образом, не пригодной для измерения толщины.

Принцип спектроскопической рефлектометрии
Толщина пленки может быть измерена с использованием спектра отражения, полученного с помощью спектроскопической рефлектометрии после настройки параметров с оптической имитационной моделью. Отраженный спектр показывает зависимость между абсолютной отражательной способностью и длиной волны. Она изменяется в зависимости от толщины пленки и оптических констант. Абсолютный коэффициент отражения определяется интерференцией тонкой пленки , вызванной многократным отражением света между поверхностью пленки и подложки.


Шесть длин волн выбраны из белого света для получения отраженного изображения для каждого из них и вычисления отражательной способности. Оптические константы (показатель преломления и коэффициент экстинкции) для тонких пленок и подложек используются в оптической модели для расчета абсолютного коэффициента отражения от коэффициента Френеля и измерения толщины пленки после настройки параметров.

Широкопольные конфокальные наблюдения в белом свете
Широкий FOV для эффективного наблюдения
FOV в 1,6 раза шире, чем типичный CLSM (конфокальный лазерный сканирующий микроскоп).

Высокая точность измерений при малом увеличении
С помощью наших специальных объективов, стало возможным проводить высоко точные измерения при малом увеличении, что трудно достичь при стандартном CLSM. Объектив разработан специально для широкого поля зрения и высокой точности измерений, High-NA (высокое значение цифровой апертуры) линзы объектива с увеличением 5x, 10x, 20x.

Увеличение Нормальные объективы NA Специальные объективы NA FOV
5x 0.15 0.25 3,000x3,000?m
10x 0.30 0.50 1,500x1,500?m
20x 0.45 0.75 750x750?m


Широкий FOV и высокая точность
HYBRID FOV в 6,7 раза шире, чем у обычных CLSM благодаря широким FOV и использованию специальных объективов с высокой числовой апертурой .

Наблюдение конфокальных изображений высокой четкости в белом свете
При использовании ксеноновой лампы освещение похоже на солнечный свет в качестве источника света, становятся доступны изображения высокой четкости с хорошим разделением цветов и высокой глубиной резкости.


Расширение применения с переключением каналов детектора
Переключение детектора канала позволяет проводить наблюдения и измерения в наиболее подходящей длине волны. Она также расширяет ваши применения для образцов, для которых лазерный луч не может обеспечить четкую картину.


Расширение применения с переклюением между разными длинами волн
Возможен выбор из 6 различных длин волн источника света. Это позволяет выбрать оптимальную длину волны для вашего наблюдения и измерения и расширяет ваши возможности анализа к образцам, чувствительным к повреждениям в определенной длине волны света, таких как резистивная пленка или УФ-отверждаемые смолы и образцы, которые поглощают определенную длину волны света.


Лазерные конфокальные наблюдения
Лазер 405 нм позволяет захватывать изображение в одно мгновение с возможностью четкой визуализации ультратонких структур.

Ниобат Натрия - наблюдение домена
(FOV 25 мкм, 11,000x увеличение на мониторе)


Наблюдение Si пластины
(FOV 75um, 3,700x увеличение на мониторе)


Полимерная смесь кристаллов
(FOV150um, 1,850x увеличение на мониторе)


3D-изображение полимерной смеси кристаллов
(FOV150um)


Текстура ячейки солнечной панели
(FOV50um, 5,500x увеличение на мониторе)


Активный материал литий-ионного аккумулятора
(FOV75um, 3,700x увеличение на мониторе)


Сравнение с цифровым оптическим микроскопом








Сравнение с интерферометрическим профилометром




Сравнение с традиционным лазерным микрооскопом

Доставка

доставка по РФ

Связаться с поставщикомИли свяжитесь с нами по телефону +7 (495) 228-13-22 [назовите код товара: 66690]Или свяжитесь с ним по телефону: +7 (495) 661-61-09
Сообщение не отправлено

* Тип заявки:
* Страна   * Город
* Имя
* Телефон   Email
Текст заявки
Желаемые условия и срок поставки
* Введите символы c картинки
* - поля обязательные для заполнения
Чтобы не стать жертвой мошенничества, при последующем совершении сделки обращайте внимание на действительные контактные данные поставщика.
Проверяйте их наличие в ЕГРЮЛ или ЕГРИП через интернет либо каким-то иным способом.

Смотрите по теме Лазерный сканирующий конфокальный цветной микроскоп OPTELICS HYBRID в Москве

  
  
  
  

/equip/equip_66690.html 0
Присоединяйтесь, и будьте в курсе!
  • Почему доллар будет стоить 50 рублей?
  • Как зарабатывать по 3 000 000 рублей в месяц?
  • Где купить станок, который делает деньги?
Ответы на эти и другие вопросы ищи в рассылке EquipNet.ru