Просмотров: 2938
Размещено:
21.12.2009
Нанотехнологический комплекс на основе сканирующего туннельного микроскопа, "УМКА"
В наличии 
Новое
Код товара: 15968
Страна-производитель: АНО "Институт нанотехнологий МФК"
Цена договорная
Концерн "Наноиндустрия"
Адрес:
Москва, ул. Бардина, дом 4, корпус 1
Показать телефон
+7(499) XXX-XX-XX
Пожаловаться
14 лет на сайте
Безопаснаясделка
Описание
НТК «УМКА» обеспечивает в атмосферных условиях изучение тонкой структуры и получение чётких изображений поверхностей электропроводящих и полупроводящих образцов методами сканирующей туннельной микроскопии.
Пользователи НТК «УМКА-02-Е» - около 100 научных организаций, университетов и научно- производственных предприятий, в том числе: РНЦ «Курчатовский институт», Центр имени М.В. Келдыша, ЦНИИТМАШ, Институт биологического приборостроения РАН, МГУ им. М.В. Ломоносова, МГТУ им. Н.Э.Баумана, СТАНКИН, Астраханский, Саратовский и другие государственные университеты во многих регионах России.
НТК "УМКА" награжден золотыми медалями выставки "Изделия и технологии двойного назначения. Диверсификация ОПК" в 2008 и 2009гг., а также дипломами целого ряда международных выставок.
- блок пьезоманипуляторов с системой виброизоляции;
- блок управления;
- управляющее программное обеспечение;
- наборы тестовых образцов, материалов,
инструментов;
- руководство пользователя нанотехнологического
оборудования;
- паспорт.
Связаться с продавцом
Технические характеристики
Разрешение атомарное
Поле сканирования (мкм) 5х5±3
Шаг сканирования в плоскости образца
в полном поле/ в режиме 1:10, (нм) 0,08/0,008
Диапазон высот (мкм) 1±0,2
Шаг измерения по вертикали (нм), не хуже 0,02
Устанавливаемые параметры:
- напряжение на туннельном зазоре (В) 0±2,3
- туннельный ток (пА) 60... 5000
Шаг задания (измерения) напряжение туннельного зазора (мВ) 0,04
Размер образца (мм) 8х8х(0,5...4)
Параметры сигнала для модуляции туннельного промежутка:
- форма сигнала произвольная,
программно-задаваемая
- частота (кГц) 10...100
- глубина модуляции (нм) ±(1...100)
Время сканирования кадра с атомарным разрешением (3х3 нм) не более, (сек) 7
Время сканирования кадра 5х5 мкм,
не более (мин) 4
Время выхода системы на рабочий режим,
не более (мин) 2
Режимы работы комплекса:
- режим сканирования по постоянному току;
- режим сканирования с постоянной высотой;
- режим измерения вольт-амперной характеристики. поверхности;
Лицензии и сертификаты
Нет
Доставка и оплата
Об оборудовании “Нанотехнологический комплекс на основе сканирующего туннельного микроскопа” пока нет отзывов :(
Хотите оставить?
Нет вопросов.
