CCBot/2.0 (http://commoncrawl.org/faq/)
Статьи
09.12.2016
 Оборудование для бестарного хранения от «Русской трапезы»: всё в интересах заказчика
Что надо знать о емкостях, силосах и бункерах для пищевой, фармацевтической и строительной промышленности

Интервью
10.03.2016
 Индукционные плиты: когда выгода покупателя означает и выгоду продавца
СУХОРУКОВ
Михаил
Ведущий менеджер технологического направления
Компания «Деловая Русь»
Что представляет собой рынок продаж индукционного оборудования в эпоху кризиса и с чем на него лучше выходить

Система измерения толщин тонких пленок эллипсометр, Elli-SE

В продаже новый Система измерения толщин тонких пленок эллипсометр, Elli-SE производства "Промэнерголаб" цена договорная.
Код товара: 43452
Состояние
Новое
Производитель
Промэнерголаб
Назначение
Спектральный эллипсометр (SE) стал стандартом для измерения толщин тонких пленок и оптических констант (n и k). Спектральный эллипсометр используется для определения характеристик всех типов материалов: диэлектриков, полупроводников, органики и многих других. Мы предлагаем эллипсометры, охватывающие широкий спектральный диапазон и позволяющие удовлетворять любые потребности потребителей. Наши эллипсометры выпускаются со многими модернизирующимися опциями: автоматизированная транспортировка образцов, фокусирующая оптика и т.д.

Цена: договорная
Описание

Спектральный эллипсометр (SE) является отраслевым стандартом для определения характеристик сложных, многослойных пленок, используется всей полупроводниковой промышленностью и производителями топ-дисплеев. Это мощная и надежная оптическая технология позволяет получать информацию об амплитудных и фазовых изменениях в широком спектральном диапазоне. Эллипсометрия является единственной уникальной технологией, позволяющей измерять толщину и показатель преломления (RI) независимо и одновременно без ссылки на однослойную пленку. Кроме того, глубинное профилирование сложных многослойных слоев пленки стало слишкой рутинной процедурой анализа модели SE. Эллипсометрические измерения свойств тонких пленок, проводящиеся в широком спектральном диапазоне, позволяют определять оптические свойства многих сложных пленок, в том числе новых пленок, например, OLED пленки, антибликовые покрытия, солнечные ячейки и пленки с низкими и высокими значениями оптических констант и т.д.

Особенности:

- Простота работы и быстрое измерение
- Безконтактное и неразрушающее измерение
- Высокая повторяемость
- Двух- и трех-мерное отображение карты данных
- Измерение мультислоев

Применение

1. Полупроводники Si, Ge, ONO, ZnO, PR, poly-Si, GaN, GaAs, Si3N4
2. Дисплеи (в т.ч. OLED) MgO, ITO, PR, Alq3 , CuPc, PVK, PAF, PEDT-PSS, NPB, SiO2, ONO
3. Диэлектрики SiO2, TiO2, Ta2O5, ITO, AIN, ZrO2, Si3N4, Ga2O3, водные окислы
4. Полимеры красители, NPB, MNA, PVA, PET, TAC, PR
5. Химия органические пленки (OLED) и LB тонкие пленки
6. Солнечные элементы SiN, a-Si, поли-Si, SiO2, Al2O3

Опции:

УФ система
- Спектральный диапазон 220 нм ~ 1000 нм
- Источник света: Дейтериевая и галогеновая лампы

Система построения изображения
- ПЗС камера и видеомонитор

Автоматическое картирование
- R- , X-Y подвижный столик
- Размеры столика 200мм и 300 мм

Высоко скоростное измерение
- 1.5 с на точку (зависит от типа пленки)

Структура эллипсометра

Источник света: Вольфрамовая галогеновая лампа (380 нм ~1,500 нм), система коллимирующих линз
Размер светового пучка: Стандартно 1.5 мм
Модуль поляризатора: коллимационная оптическая система, кристалл единичного поляризатора (215 – 1,000 нм), вращающийся поляризатор: блок управления микрошаговым двигателем
Модуль анализатора: коллимационная оптическая система, кристалл единичного поляризатора (215 – 1,000 нм), вращающийся поляризатор: блок управления микрошаговым двигателем
Спектрограф: Диапазон длин волн: 200 нм ~ 1,000 нм (ПЗС тип), разрешающая способность: 1.5 нм
Угол падения: Регулируемый вручную угол падения в диапазоне 60~ 90 (шаг 5)
Эллипсометрические углы Пси: диапазон 0 ~ 90 Повторяемость, </= ±0.02
Дельта: диапазон 0 ~ 180 Повторяемость, </= ± 0.10 с фазовой пластинкой
Коллимирующая система: Автоколлиматор
Предметный столик: круглый, диаметр 150 мм


Технические характеристики

Диапазон длин волн 380 нм~1000 нм (UV опция: 240 нм – 1000 нм)
Размер светового пучка >/=1.5 мм
Измеряемые константы: толщина пленки, n, k
Диапазон толщин ~ 10 мкм (зависит от типа пленки)
Число слоев: до 10 (зависит от типа пленки)
Производительность 10~15 с на точку(зависит от типа пленки)
Опция: высокоскоростное измерение 1.5 с на точку
Дисперсионное уравнение Коши, Зельмера, Лоренца, квантово-механическое и другие
Дополнительные возможности:
определение коэффициенты отражения и затухания,
оптическая ширина запрещённой (энергетической) зоны
Плотность и структура слоя
Функциональная библиотека диэлектриков
Определяемые пользователем модели
Возможность импорта и экспорта информации
Расширяемая библиотека

Подробнее на сайте: http://www.czl.ru

Доставка

Есть

Заказать у поставщикаИли свяжитесь с нами по телефону +7 (495) 228-13-22 [назовите код товара: 43452]
Сообщение не отправлено

* Тип заявки:
* Страна   * Город
* Имя
* Телефон   Email
Текст заявки
Желаемые условия и срок поставки
* Введите символы c картинки
* - поля обязательные для заполнения
Чтобы не стать жертвой мошенничества, при последующем совершении сделки обращайте внимание на действительные контактные данные поставщика.
Проверяйте их наличие в ЕГРЮЛ или ЕГРИП через интернет либо каким-то иным способом.

Смотрите по теме Система измерения толщин тонких пленок эллипсометр

  
  
  
  

/equip/equip_43452.html 0
Почему доллар будет стоить 50 рублей?
Как зарабатывать по 3 000 000 рублей в месяц?
Где купить станок, который делает деньги?
Ответы на эти и другие вопросы ищи в рассылке EquipNet.ru