CCBot/2.0 (http://commoncrawl.org/faq/)
Статьи
09.12.2016
 Оборудование для бестарного хранения от «Русской трапезы»: всё в интересах заказчика
Что надо знать о емкостях, силосах и бункерах для пищевой, фармацевтической и строительной промышленности

Интервью
10.03.2016
 Индукционные плиты: когда выгода покупателя означает и выгоду продавца
СУХОРУКОВ
Михаил
Ведущий менеджер технологического направления
Компания «Деловая Русь»
Что представляет собой рынок продаж индукционного оборудования в эпоху кризиса и с чем на него лучше выходить

Лазерный анализатор элементного состава, LEA-S500

В продаже новый Лазерный анализатор элементного состава, LEA-S500 производства "Солар ТИИ (Solar TII)" цена договорная.
Код товара: 19765
Состояние
Новое
Производитель
Солар ТИИ (Solar TII)
Назначение
Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500 является лазерным атомно-эмиссионным спектрометром с широкими аналитическими возможностями. В приборе объединены новейшие достижения спектроскопии, лазерной техники и аналитического программного обеспечения. Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500 - полностью автоматизированный спектрометр, позволяющий анализировать состав различных твердых и порошкообразных материалов:

* металлы и cплавы
* керамика
* стекло
* пластмассы
* примеси в чистых материалах
* прессованные порошки

Применение лазера специальной конструкции в качестве источника возбуждения спектров позволяет:
- обеспечить анализ токопроводящих и нетокопроводящих материалов;
- значительно ослабить межэлементные влияния, что даёт возможность построить общую калибровочную кривую для большого диапазона концентраций;
- исключить предварительную подготовку поверхности пробы;
- обеспечить возможность выполнения анализа состава и толщины покрытий, послойный анализ, анализ тонких пленок, анализ состава включений, структурных составляющих.

Использование в Лазерном анализаторе элементного состава LEA-S500 спектрографа с высокой разрешающей способностью обеспечивает получение высококачественного плоского оптического поля, свободного от аберраций.

Применение многоэлементной системы регистрации спектра (ПЗС-камера с 2048 светочувствительными элементами) обеспечивает высокую скорость получения информации.

Тройная (механическая, электронная и программная) защита от воздействия лазерного излучения обеспечивает полную безопасность при эксплуатации анализатора LEA-S500.

Лазерный Анализатор элементного состава (лазерный атомно-эмиссионный спектрометр - LIBS) LEA-S500 - Применение

* Черная и цветная металлургия
* Машиностроение
* Строительные материалы
* Добыча и переработка сырья
* Геологическая промышленность
* Полупроводниковая промышленность
* Материаловедение
* Научные исследования в институтах и учебных лабораториях
* Криминалистика
* Стекольная промышленность

Цена: договорная
Описание

Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500 является лазерным атомно-эмиссионным спектрометром с широкими аналитическими возможностями. В приборе объединены новейшие достижения спектроскопии, лазерной техники и аналитического программного обеспечения. Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500 - полностью автоматизированный спектрометр, позволяющий анализировать состав различных твердых и порошкообразных материалов:

* металлы и cплавы
* керамика
* стекло
* пластмассы
* примеси в чистых материалах
* прессованные порошки

Применение лазера специальной конструкции в качестве источника возбуждения спектров позволяет:
- обеспечить анализ токопроводящих и нетокопроводящих материалов;
- значительно ослабить межэлементные влияния, что даёт возможность построить общую калибровочную кривую для большого диапазона концентраций;
- исключить предварительную подготовку поверхности пробы;
- обеспечить возможность выполнения анализа состава и толщины покрытий, послойный анализ, анализ тонких пленок, анализ состава включений, структурных составляющих.

Использование в Лазерном анализаторе элементного состава LEA-S500 спектрографа с высокой разрешающей способностью обеспечивает получение высококачественного плоского оптического поля, свободного от аберраций.

Применение многоэлементной системы регистрации спектра (ПЗС-камера с 2048 светочувствительными элементами) обеспечивает высокую скорость получения информации.

Тройная (механическая, электронная и программная) защита от воздействия лазерного излучения обеспечивает полную безопасность при эксплуатации анализатора LEA-S500.

Лазерный Анализатор элементного состава (лазерный атомно-эмиссионный спектрометр - LIBS) LEA-S500 - Применение

* Черная и цветная металлургия
* Машиностроение
* Строительные материалы
* Добыча и переработка сырья
* Геологическая промышленность
* Полупроводниковая промышленность
* Материаловедение
* Научные исследования в институтах и учебных лабораториях
* Криминалистика
* Стекольная промышленность

Таблица гарантированных пределов обнаружения и интервалов определяемых
концентраций для ряда элементов в сплавах на основе железа, меди, алюминия и титана
Элемент Предел обнаружения,
3s, ppm
(10-4 %) Интервалы определяемых концентраций
в сплавах на различных основах, %
Железо Медь Алюминий Титан
Min Max Min Max Min Max Min Max
Be 0.1 0.0005 2.0 0.0005 2.0
B 1.2 0.005 0.2
C 10 0.05 4.5
Mg 0.5 0.001 0.15 0.01 5.0
Al 1.0 0.001 2.0 0.01 5.0 0.03 10.0
Si 5.0 0.005 20.0 0.01 5.0 0.01 17.0 0.06 0.7
P 10 0.01 0.5 0.05 2.0
Ti 0.3 0.001 10.0 0.01 2.0
V 2.0 0.005 10.0 0.05 7.0
Cr 2.0 0.005 30.0 0.01 1.5 0.01 0.5 0.05 3.0
Mn 0.5 0.003 18.0 0.003 7.0 0.01 2.0 0.01 3.0
Fe 1.0 0.01 15.0 0.005 2.0 0.01 2.0
Co 4.0 0.005 15.0
Ni 0.8 0.001 40.0 0.01 20.0 0.001 1.0
Cu 0.5 0.001 10.0 0.01 10.0
Zn 5.0 0.01 50.0 0.001 2.0
As 5.0 0.008 0.5
Zr 1.0 0.01 0.3 0.01 4.0
Nb 1.0 0.003 1.5
Mo 1.0 0.005 20.0 0.01 7.0
Cd 1.0
Sn 10.0 0.01 20.0 0.01 2.0 0.05 4.0
W 5.0 0.01 16.0
Pb 20.0 0.01 0.5 0.01 15.0 0.01 0.3
Bi 5.0 0.005 0.1
Ag 0.3 0.001 0.5
Sb 10.0 0.005 1.5
Na 0.1 0.001 1.0
Сa 1.0
Au 4.5


Лазерный Анализатор элементного состава (лазерный атомно-эмиссионный спектрометр - LIBS) LEA-S500 - Спецификация

ОПТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА
Фокусное расстояние, мм:
* Дифракционная решетка, штрихов/мм:
* Диапазон длин волн, нм:
* Дисперсия, нм/мм:
* Спектральное разрешение, нм:

500
1800
190-800
1.0
0.028


500
2400
190-600
0.7
0.020


500
3600
190-400
0.5
0.014
* Примечание: В приборе устанавливается любая из дифракционных решёток в зависимости от типа материалов, в анализе которых заинтересован заказчик.
КАМЕРА ОБРАЗЦОВ
Размеры проб (без адаптеров): 12x12x2 мм (мин.), 75х75х40 мм (макс.)
Возможность перемещения образца вдоль осей Х-Y: +/-5 мм с шагом 0.001 мм
(для усреднения результатов измерения и микроспектрального анализа)
Размер анализируемой зоны: диа. 0.03 - 1.7 мм
Рабочая среда: воздух
Откачка воздуха: при необходимости
Адаптеры: для проволоки, фольги и образцов малого размера
ИСТОЧНИК ВОЗБУЖДЕНИЯ
Специальный Nd:YAG лазер с модуляцией добротности
Средняя энергия в импульсе: 100 мДж
Нестабильность энергии импульсов: не более +/-3% из 99% импульсов
РЕГИСТРАЦИЯ СПЕКТРА
Линейная ПЗС-камера, 14 bit, USB-интерфейс, 2048 светочувствительных элементов
(возможны другие типы детекторов)
Регистрация полного спектра (панорамная)
МИНИМАЛЬНЫЕ ТРЕБОВАНИЯ К КОМПЬЮТЕРУ
ОС: Win 98/ME/2000/XP
Процессор: P-IV / 2 ГГц или аналогичный
Объем оперативной памяти: 256 Мб
HDD - 40 Гб
Видеокарта: VIVO (Video-In, Video-Out), GeForce-3 (ASUSTeK)
Монитор 17", разрешение не менее 1024x768, True Color
Устройство чтения компакт-дисков CD-R
Порт COM (interface RS-232) - 2 шт; Порт "Ethernet 100 Base-T" (connector RJ-45), USB-порт
АКСЕССУАРЫ: принтер, АС, дополнительный порт "Ethernet 100 Base-T" для локальной сети, CD-RW
ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ для Win9x/2000/XP
Автокалибровка длин волн
Индикация отклонения от указанного типа материала
Контроль неучтенных примесей
Метрологическая оценка результатов анализа
Графическое представление аналитического сигнала
Базы данных:
- спектральных линий
- стандартных образцов
- типов материалов
Распечатка и математическая обработка результатов анализа
АНАЛИТИЧЕСКИЕ ПРОГРАММЫ
Аналитические программы (методология) для анализов химического состава:
- сплавов на основе алюминия, никеля, меди, титана и др.
- различных типов сталей и чугунов
- токопроводящих и нетокопроводящих материалов (пластмасса, керамика, стекло, хрусталь и др.)
Качественный, полуколичественный и количественный анализ различных материалов
Автоматическое определение типа материала или базового элемента
ВРЕМЯ АНАЛИЗА
От 10 сек до 3 мин в одной точке (в зависимости от количества определяемых элементов)
ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ
230 В, 50/60 Гц
900 Вт во время измерений, 100 Вт в дежурном режиме
Габаритные размеры (ДxШxВ): 550 x 750 x 1100 мм; Масса: 120 кг


http://www.solartii.ru/analytical_instruments/lea-s500.htm


Технические характеристики

Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500 является лазерным атомно-эмиссионным спектрометром с широкими аналитическими возможностями. В приборе объединены новейшие достижения спектроскопии, лазерной техники и аналитического программного обеспечения. Лазерный анализатор элементного состава LEA-S500 - полностью автоматизированный спектрометр, позволяющий анализировать состав различных твердых и порошкообразных материалов:

* металлы и cплавы
* керамика
* стекло
* пластмассы
* примеси в чистых материалах
* прессованные порошки

Применение лазера специальной конструкции в качестве источника возбуждения спектров позволяет:
- обеспечить анализ токопроводящих и нетокопроводящих материалов;
- значительно ослабить межэлементные влияния, что даёт возможность построить общую калибровочную кривую для большого диапазона концентраций;
- исключить предварительную подготовку поверхности пробы;
- обеспечить возможность выполнения анализа состава и толщины покрытий, послойный анализ, анализ тонких пленок, анализ состава включений, структурных составляющих.

Использование в Лазерном анализаторе элементного состава LEA-S500 спектрографа с высокой разрешающей способностью обеспечивает получение высококачественного плоского оптического поля, свободного от аберраций.

Применение многоэлементной системы регистрации спектра (ПЗС-камера с 2048 светочувствительными элементами) обеспечивает высокую скорость получения информации.

Тройная (механическая, электронная и программная) защита от воздействия лазерного излучения обеспечивает полную безопасность при эксплуатации анализатора LEA-S500.

Лазерный Анализатор элементного состава (лазерный атомно-эмиссионный спектрометр - LIBS) LEA-S500 - Применение

* Черная и цветная металлургия
* Машиностроение
* Строительные материалы
* Добыча и переработка сырья
* Геологическая промышленность
* Полупроводниковая промышленность
* Материаловедение
* Научные исследования в институтах и учебных лабораториях
* Криминалистика
* Стекольная промышленность

Таблица гарантированных пределов обнаружения и интервалов определяемых
концентраций для ряда элементов в сплавах на основе железа, меди, алюминия и титана
Элемент Предел обнаружения,
3s, ppm
(10-4 %) Интервалы определяемых концентраций
в сплавах на различных основах, %
Железо Медь Алюминий Титан
Min Max Min Max Min Max Min Max
Be 0.1 0.0005 2.0 0.0005 2.0
B 1.2 0.005 0.2
C 10 0.05 4.5
Mg 0.5 0.001 0.15 0.01 5.0
Al 1.0 0.001 2.0 0.01 5.0 0.03 10.0
Si 5.0 0.005 20.0 0.01 5.0 0.01 17.0 0.06 0.7
P 10 0.01 0.5 0.05 2.0
Ti 0.3 0.001 10.0 0.01 2.0
V 2.0 0.005 10.0 0.05 7.0
Cr 2.0 0.005 30.0 0.01 1.5 0.01 0.5 0.05 3.0
Mn 0.5 0.003 18.0 0.003 7.0 0.01 2.0 0.01 3.0
Fe 1.0 0.01 15.0 0.005 2.0 0.01 2.0
Co 4.0 0.005 15.0
Ni 0.8 0.001 40.0 0.01 20.0 0.001 1.0
Cu 0.5 0.001 10.0 0.01 10.0
Zn 5.0 0.01 50.0 0.001 2.0
As 5.0 0.008 0.5
Zr 1.0 0.01 0.3 0.01 4.0
Nb 1.0 0.003 1.5
Mo 1.0 0.005 20.0 0.01 7.0
Cd 1.0
Sn 10.0 0.01 20.0 0.01 2.0 0.05 4.0
W 5.0 0.01 16.0
Pb 20.0 0.01 0.5 0.01 15.0 0.01 0.3
Bi 5.0 0.005 0.1
Ag 0.3 0.001 0.5
Sb 10.0 0.005 1.5
Na 0.1 0.001 1.0
Сa 1.0
Au 4.5


Лазерный Анализатор элементного состава (лазерный атомно-эмиссионный спектрометр - LIBS) LEA-S500 - Спецификация

ОПТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА
Фокусное расстояние, мм:
* Дифракционная решетка, штрихов/мм:
* Диапазон длин волн, нм:
* Дисперсия, нм/мм:
* Спектральное разрешение, нм:

500
1800
190-800
1.0
0.028


500
2400
190-600
0.7
0.020


500
3600
190-400
0.5
0.014
* Примечание: В приборе устанавливается любая из дифракционных решёток в зависимости от типа материалов, в анализе которых заинтересован заказчик.
КАМЕРА ОБРАЗЦОВ
Размеры проб (без адаптеров): 12x12x2 мм (мин.), 75х75х40 мм (макс.)
Возможность перемещения образца вдоль осей Х-Y: +/-5 мм с шагом 0.001 мм
(для усреднения результатов измерения и микроспектрального анализа)
Размер анализируемой зоны: диа. 0.03 - 1.7 мм
Рабочая среда: воздух
Откачка воздуха: при необходимости
Адаптеры: для проволоки, фольги и образцов малого размера
ИСТОЧНИК ВОЗБУЖДЕНИЯ
Специальный Nd:YAG лазер с модуляцией добротности
Средняя энергия в импульсе: 100 мДж
Нестабильность энергии импульсов: не более +/-3% из 99% импульсов
РЕГИСТРАЦИЯ СПЕКТРА
Линейная ПЗС-камера, 14 bit, USB-интерфейс, 2048 светочувствительных элементов
(возможны другие типы детекторов)
Регистрация полного спектра (панорамная)
МИНИМАЛЬНЫЕ ТРЕБОВАНИЯ К КОМПЬЮТЕРУ
ОС: Win 98/ME/2000/XP
Процессор: P-IV / 2 ГГц или аналогичный
Объем оперативной памяти: 256 Мб
HDD - 40 Гб
Видеокарта: VIVO (Video-In, Video-Out), GeForce-3 (ASUSTeK)
Монитор 17", разрешение не менее 1024x768, True Color
Устройство чтения компакт-дисков CD-R
Порт COM (interface RS-232) - 2 шт; Порт "Ethernet 100 Base-T" (connector RJ-45), USB-порт
АКСЕССУАРЫ: принтер, АС, дополнительный порт "Ethernet 100 Base-T" для локальной сети, CD-RW
ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ для Win9x/2000/XP
Автокалибровка длин волн
Индикация отклонения от указанного типа материала
Контроль неучтенных примесей
Метрологическая оценка результатов анализа
Графическое представление аналитического сигнала
Базы данных:
- спектральных линий
- стандартных образцов
- типов материалов
Распечатка и математическая обработка результатов анализа
АНАЛИТИЧЕСКИЕ ПРОГРАММЫ
Аналитические программы (методология) для анализов химического состава:
- сплавов на основе алюминия, никеля, меди, титана и др.
- различных типов сталей и чугунов
- токопроводящих и нетокопроводящих материалов (пластмасса, керамика, стекло, хрусталь и др.)
Качественный, полуколичественный и количественный анализ различных материалов
Автоматическое определение типа материала или базового элемента
ВРЕМЯ АНАЛИЗА
От 10 сек до 3 мин в одной точке (в зависимости от количества определяемых элементов)
ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ
230 В, 50/60 Гц
900 Вт во время измерений, 100 Вт в дежурном режиме
Габаритные размеры (ДxШxВ): 550 x 750 x 1100 мм; Масса: 120 кг


http://www.solartii.ru/analytical_instruments/lea-s500.htm

Доставка

да

Заказать у поставщикаИли свяжитесь с нами по телефону +7 (495) 228-13-22 [назовите код товара: 19765]
Сообщение не отправлено

* Тип заявки:
* Страна   * Город
* Имя
* Телефон   Email
Текст заявки
Желаемые условия и срок поставки
* Введите символы c картинки
* - поля обязательные для заполнения
Чтобы не стать жертвой мошенничества, при последующем совершении сделки обращайте внимание на действительные контактные данные поставщика.
Проверяйте их наличие в ЕГРЮЛ или ЕГРИП через интернет либо каким-то иным способом.

Смотрите по теме Лазерный анализатор элементного состава

  
  
  
  

/equip/equip_19765.html 0
Почему доллар будет стоить 50 рублей?
Как зарабатывать по 3 000 000 рублей в месяц?
Где купить станок, который делает деньги?
Ответы на эти и другие вопросы ищи в рассылке EquipNet.ru